Kotelon tiiveyttä analysoiva algoritmi kosteus- ja lämpötilamittauksilla, sekä kosteuden haitat mikropiireille - Hanhela, Jarkko (My University, 2020)
Elektroniikan yleistyttyä myös tuotteiden vesitiiveyteen on kiinnitetty entistä enemmän huomiota. Elektroniikan altistuminen suurille kosteuksille voi aiheuttaa laitteiden toimintahäiriöitä ja pahimmillaan tulipaloon johtavia oikosulkuja. Yksinään suojakuoren vesitiiveys ei kaikissa tapauksissa riitä suojaamaan elektroniikkaa, sillä vettä piilee myös valmiiksi laitteiden sisällä. Hyvä tiiveys kuitenkin pidentää tuotteen käyttöikää, jonka vuoksi on kehitetty tekniikoita tiiveyden mittaamiseen. Vesitiiveyttä voidaan mitata lukuisilla tavoilla, jotka kuitenkin vaativat erillisiä mittausjärjestelyitä. Haastavissa olosuhteissa tuotteen vesitiiveyttä olisi kannattavaa mitata kuitenkin reaaliaikaisesti, jotta voitaisiin ennustaa kosteusvuodon aiheuttama vaara jo ennen laitteen vioittumista. Ilman kosteustasoa suojakuoren sisältä voidaan mitata helposti kosteus- ja lämpötila-antureilla. Koska ilmankosteus reagoi vuotojen lisäksi mm. piirilevyn sisältämän veden desorptioon, nestemäisen veden haihtumiseen ja höyryn kondensoitumiseen, vuotoja on haastavaa mallintaa. Tässä tutkimuksessa selvitettiin, voitiinko kaapelitelevisioverkkoon suunnitellun kuitusolmutuotteen suojakuoren sisälle sijoitetulla kosteus- ja lämpötila-anturilla selvittää mahdollisten vuotojen suuruudet. Ilmankosteuden fysikaalisille ilmiöille määritettiin aluksi pohja teoriaosuudella, jonka jälkeen teoriaa sovellettiin käytännön kokeisiin vaihtelevissa ympäristöolosuhteissa.
Keywords: kosteus, elektroniikka, vuotomittaus, RH, AH, kosteudentorjunta, diffuusio