Kemiallinen siirtymä röntgenfotoelektronispektroskopiassa - Töyli, Emma (My University, 2026)
Röntgenfotoelektronispektroskopia (XPS, engl. X-ray photoelectron spectroscopy), tai toiselta lyhenteeltään (ESCA, engl. electron spectroscopy for chemical analysis) on yksi nykypäivän suosituimmista pintatutkimusmenetelmistä, ja sitä hyödynnetään monilla tieteenaloilla. XPS-menetelmä perustuu tutkittavan näytteen pinta-atomien elektronien emittoitumiseen röntgensäteilyn avulla, ja näiden elektronien kineettisten energioiden mittaukseen. Menetelmän käyttö edellyttää moniosaisen laitteiston, jonka jokaisella instrumentilla on oma tehtävänsä spektroskoopin toiminnassa. XPS-menetelmän hyödyntäminen edellyttää myös oikeaa tapaa tulkita mittauksissasaatua dataa. Virheellisten data-analyysien ja tulkintojen määrä on kasvanut tiedekirjallisuudessa menetelmän suosion kasvaessa, ja tämä on johtanut moniin usein toistuviin virheisiin. XPS-menetelmä pystyy havaitsemaan kemiallisia sidoksia näytteen pinnasta, ja tämä perustuu datassa näkyvään kemialliseen siirtymään. Kemiallinen siirtymä johtuu muutoksista tutkittavan atomin elektronitiheyksissä, ja näiden muutosten havaitseminen kertoo atomin muodostamista sidoksista toisiin atomeihin.
Keywords: XPS; ESCA; kemiallinen siirtymä; pintatutkimus