Hyppää sisältöön
    • Suomeksi
    • In English
  • Suomeksi
  • In English
  • Kirjaudu
Näytä aineisto 
  •   Etusivu
  • 3. UTUCris-artikkelit
  • Rinnakkaistallenteet
  • Näytä aineisto
  •   Etusivu
  • 3. UTUCris-artikkelit
  • Rinnakkaistallenteet
  • Näytä aineisto
JavaScript is disabled for your browser. Some features of this site may not work without it.

Are idiosyncratic risk and extreme positive return priced in the Indian equity market?

Mohammad Nurul Hasan; Ralf Östermark; Syed Riaz Mahmood Ali

Are idiosyncratic risk and extreme positive return priced in the Indian equity market?

Mohammad Nurul Hasan
Ralf Östermark
Syed Riaz Mahmood Ali
Katso/Avaa
Manuscript_india_IREF_Rev1.pdf (650.2Kb)
Lataukset: 

doi:https://doi.org/10.1016/j.iref.2020.08.008
URI
https://www.sciencedirect.com/science/article/abs/pii/S1059056020301775
Näytä kaikki kuvailutiedot
Julkaisun pysyvä osoite on:
https://urn.fi/URN:NBN:fi-fe2021042822546
Tiivistelmä

In this paper, we examine whether the IVOL (Idiosyncratic Volatility) and MAX (Extreme Positive
Return) can predict future returns in the Indian stock market where a short sale is restricted with
no naked short sale allowed. We find that both IVOL and MAX have significantly positive and
persistent effects on expected returns in this market. In subsamples, we document that small firms
have positive IVOL and MAX effects. However, more interestingly, after including all the controls,
in contrast to the finding of Bali et al. (2011), the IVOL and MAX effects are significantly negative
for the large firms in this market implying the investors’ response to IVOL and MAX with the
perception of low growth prospects of large firms. We use both portfolio level and firm-level Fama
Macbeth cross-sectional analysis to show the effects.  

Kokoelmat
  • Rinnakkaistallenteet [19207]

Turun yliopiston kirjasto | Turun yliopisto
julkaisut@utu.fi | Tietosuoja | Saavutettavuusseloste
 

 

Tämä kokoelma

JulkaisuajatTekijätNimekkeetAsiasanatTiedekuntaLaitosOppiaineYhteisöt ja kokoelmat

Omat tiedot

Kirjaudu sisäänRekisteröidy

Turun yliopiston kirjasto | Turun yliopisto
julkaisut@utu.fi | Tietosuoja | Saavutettavuusseloste