Hyppää sisältöön
    • Suomeksi
    • In English
  • Suomeksi
  • In English
  • Kirjaudu
Näytä aineisto 
  •   Etusivu
  • 3. UTUCris-artikkelit
  • Rinnakkaistallenteet
  • Näytä aineisto
  •   Etusivu
  • 3. UTUCris-artikkelit
  • Rinnakkaistallenteet
  • Näytä aineisto
JavaScript is disabled for your browser. Some features of this site may not work without it.

ToF-SIMS study of 1-dodecanethiol adsorption on Au, Ag, Cu and Pt surfaces

Leiro JA; Laiho T

ToF-SIMS study of 1-dodecanethiol adsorption on Au, Ag, Cu and Pt surfaces

Leiro JA
Laiho T
Katso/Avaa
Laiho_et_al-2008-Surface_and_Interface_Analysis.pdf (497.2Kb)
Lataukset: 

JOHN WILEY & SONS LTD
doi:10.1002/sia.2722
Näytä kaikki kuvailutiedot
Julkaisun pysyvä osoite on:
https://urn.fi/URN:NBN:fi-fe2021042715290
Tiivistelmä
Time-of-flight secondary ion mass spectrometry (ToF-SIMS) has been used to perform a chemical analysis of long-chain thiol (CH3(CH2)(11)SH)-treated gold, silver, copper and platinum surfaces. All the mass peaks from positive and negative ion spectra within the range m/z = 0-2000 u are studied. ToF-SIMS data revealed that on gold, silver and copper substrates 1-dodecanethiol form dense standing-up phases, but on platinum being a catalytically active substrate, we were able to identify also surface-aligned parallel lying molecules in addition to a standing thiolate layer. Our study shows that when ToF-SIMS spectra are analyzed, not only the existence of oligomers but also metal + hydrocarbon fragments give information about the order of SAM. Copyright (c) 2008 John Wiley & Sons, Ltd.
Kokoelmat
  • Rinnakkaistallenteet [19207]

Turun yliopiston kirjasto | Turun yliopisto
julkaisut@utu.fi | Tietosuoja | Saavutettavuusseloste
 

 

Tämä kokoelma

JulkaisuajatTekijätNimekkeetAsiasanatTiedekuntaLaitosOppiaineYhteisöt ja kokoelmat

Omat tiedot

Kirjaudu sisäänRekisteröidy

Turun yliopiston kirjasto | Turun yliopisto
julkaisut@utu.fi | Tietosuoja | Saavutettavuusseloste