Hyppää sisältöön
    • Suomeksi
    • In English
  • Suomeksi
  • In English
  • Kirjaudu
Näytä aineisto 
  •   Etusivu
  • 3. UTUCris-artikkelit
  • Rinnakkaistallenteet
  • Näytä aineisto
  •   Etusivu
  • 3. UTUCris-artikkelit
  • Rinnakkaistallenteet
  • Näytä aineisto
JavaScript is disabled for your browser. Some features of this site may not work without it.

Testing incompatibility of quantum devices with few states

Miyadera Takayuki; Heinosaari Teiko; Takakura Ryo

Testing incompatibility of quantum devices with few states

Miyadera Takayuki
Heinosaari Teiko
Takakura Ryo
Katso/Avaa
Final draft (601.2Kb)
Lataukset: 

AMER PHYSICAL SOC
doi:10.1103/PhysRevA.104.032228
Näytä kaikki kuvailutiedot
Julkaisun pysyvä osoite on:
https://urn.fi/URN:NBN:fi-fe2021102852825
Tiivistelmä
When observations must come from incompatible devices and cannot be produced by compatible devices is a property that motivates two integer-valued quantifications of incompatibility, called incompatibility dimension and compatibility dimension. The first one quantifies how many states are minimally needed to detect incompatibility if the test states are chosen carefully, whereas the second one quantifies how many states one may have to use if they are randomly chosen. With concrete examples we show that these quantities have unexpected behavior with respect to noise.
Kokoelmat
  • Rinnakkaistallenteet [19207]

Turun yliopiston kirjasto | Turun yliopisto
julkaisut@utu.fi | Tietosuoja | Saavutettavuusseloste
 

 

Tämä kokoelma

JulkaisuajatTekijätNimekkeetAsiasanatTiedekuntaLaitosOppiaineYhteisöt ja kokoelmat

Omat tiedot

Kirjaudu sisäänRekisteröidy

Turun yliopiston kirjasto | Turun yliopisto
julkaisut@utu.fi | Tietosuoja | Saavutettavuusseloste