Online Software-Based Self-Testing in the Dark Silicon Era

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dc.contributor.authorHaghbayan Mohammad-Hashem
dc.contributor.authorRahmani Amir-Mohammad
dc.contributor.authorMiele Antonio
dc.contributor.authorLiljeberg Pasi
dc.contributor.authorTenhunen Hannu
dc.contributor.organizationfi=matemaattis-luonnontieteellinen tiedekunta|en=Faculty of Science|
dc.contributor.organizationfi=ohjelmistotekniikka|en=Software Engineering|
dc.contributor.organizationfi=sulautettu elektroniikka|en=Embedded Electronics|
dc.contributor.organizationfi=tietotekniikan laitos|en=Department of Computing|
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dc.converis.urlhttps://research.utu.fi/converis/portal/Publication/18921577
dc.date.accessioned2022-10-28T13:24:33Z
dc.date.available2022-10-28T13:24:33Z
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dc.identifier.eisbn978-3-319-31596-6
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dc.identifier.oldhandle10024/164975
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dc.identifier.urnURN:NBN:fi-fe2021042716573
dc.language.isoen
dc.okm.affiliatedauthorHaghbayan, Hashem
dc.okm.affiliatedauthorLiljeberg, Pasi
dc.okm.affiliatedauthorTenhunen, Hannu
dc.okm.affiliatedauthorRahmani, Amir
dc.okm.discipline113 Computer and information sciencesen_GB
dc.okm.discipline113 Tietojenkäsittely ja informaatiotieteetfi_FI
dc.okm.internationalcopublicationinternational co-publication
dc.okm.internationalityInternational publication
dc.okm.typeB2 Book
dc.publisherSpringer
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dc.publisher.country-codeCH
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dc.publisher.placeswit
dc.relation.doi10.1007/978-3-319-31596-6_10
dc.source.identifierhttps://www.utupub.fi/handle/10024/164975
dc.titleOnline Software-Based Self-Testing in the Dark Silicon Era
dc.title.bookThe Dark Side of Silicon
dc.year.issued2016

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Name:
Book_Chapter_Online_Testing_Hashem2016.pdf
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