Titaani-implantin silaanikerroksen tutkiminen röntgenfotoelektronispektroskopialla

Tietueen suppeat tiedot
dc.contributor.authorHalminen, Elina
dc.contributor.departmentfi=Fysiikan ja tähtitieteen laitos|en=Department of Physics and Astronomy|
dc.contributor.facultyfi=Luonnontieteiden ja tekniikan tiedekunta|en=Faculty of Science and Engineering|
dc.contributor.studysubjectfi=Fysiikka|en=Physics|
dc.date.accessioned2019-05-09T10:04:56Z
dc.date.available2019-05-09T10:04:56Z
dc.date.issued2019-04-15
dc.description.abstractTitaaninäytteitä on pintakäsitelty hiekkapuhaltamalla tai happoetsauksella. Pintakäsittelyn jälkeen näytteiden pinnalle levitettiin silaaniyhdistettä. Tutkimuksissa pyritään selvittämään titaanin ja silaanin välistä rajapintaa röntgenfotoelektronispektroskopialla (X-ray photoelectron spectroscopy, XPS). XPS on yksi käytetyimmistä materiaalitieteen tutkimusmenetelmistä. XPS:lla voidaan määrittää näytepinnan kemiallisia sidoksia ja atomikonsentraatioita. Nämä pinnan ominaisuudet saadaan selvitettyä spektreistä, jotka muodostuvat mittauksista. Mittaukset suoritetaan korkean energian röntgenfotoelektronispektroskopian, HAXPES (Hard X-ray photoelectron spectroscopy, HAXPES), mittausmenetelmällä synkrotronisäteilyllä. Synkrotronisäteily mahdollistaa näytteiden mittaukset energiavälillä 2-10 keV, jolloin analysointisyvyys on suurempi kuin matalammilla energioilla mitattuna. Mittaukset suoritettiin 5 keV:n viritysenergialla. Hammasimplantin rakenne on kolmiosainen: ruuvi, jatke ja kruunu. Yleisimmin ruuvi ja jatke valmistetaan titaanista tai sen lejeeringistä, ja kruunu on keraaminen. Jatke on pinnoitettu silaanilla, koska jatkeen titaanin ja kruunun keramiikan välille tarvitaan tartunta-aine. Tutkielmassa selvitetään titaanisen jatkeen ja silaanipinnoitteen välistä rajapintaa. Mittauksien fotoemissiospektreistä havaittiin, että titaanin ja silaanin sisältämän piin välille muodostuu silloitussidos hapen kanssa (Ti-O-Si). Hiekkapuhallettuihin näytteisiin jäi alumiinia, joka heikentää titaanin korroosionkestävyyttä.
dc.format.extent60
dc.identifier.olddbid163994
dc.identifier.oldhandle10024/147168
dc.identifier.urihttps://www.utupub.fi/handle/11111/21267
dc.identifier.urnURN:NBN:fi-fe2019042913586
dc.language.isofin
dc.rightsfi=Julkaisu on tekijänoikeussäännösten alainen. Teosta voi lukea ja tulostaa henkilökohtaista käyttöä varten. Käyttö kaupallisiin tarkoituksiin on kielletty.|en=This publication is copyrighted. You may download, display and print it for Your own personal use. Commercial use is prohibited.|
dc.rights.accessrightssuljettu
dc.source.identifierhttps://www.utupub.fi/handle/10024/147168
dc.subjecttitaani, silaani, hammasimplantti, XPS, HAXPES, synkrotronisäteily
dc.titleTitaani-implantin silaanikerroksen tutkiminen röntgenfotoelektronispektroskopialla
dc.type.ontasotfi=Pro gradu -tutkielma|en=Master's thesis|

Tiedostot

Näytetään 1 - 1 / 1
Name:
Halminen_Elina_opinnayte.pdf
Size:
3.51 MB
Format:
Adobe Portable Document Format
Lataa

Kokoelmat

Pro gradu -tutkielmat ja diplomityöt sekä syventävien opintojen opinnäytetyöt (rajattu näkyvyys)