Bimolecular Annihilation Processes in OLEDs
| dc.contributor.author | Kuronen, Olivia | |
| dc.contributor.department | fi=Kone- ja materiaalitekniikan laitos|en=Department of Mechanical and Materials Engineering| | |
| dc.contributor.faculty | fi=Teknillinen tiedekunta|en=Faculty of Technology| | |
| dc.contributor.studysubject | fi=Materiaalitekniikka|en=Materials Engineering| | |
| dc.date.accessioned | 2026-05-22T19:01:06Z | |
| dc.date.issued | 2026-05-15 | |
| dc.description.abstract | This thesis investigates the physical limitations and efficiency roll-off of organic light-emitting diodes (OLEDs) at high brightness levels. Due to the low dielectric constant of organic semiconductors, tightly bound excitons are formed, which at high current densities trigger bimolecular loss mechanisms such as triplet–triplet annihilation (TTA) and triplet–polaron annihilation (TPA). These phenomena reduce device efficiency and generate heat as well as high-energy excited states, which cause chemical damage to the materials and shorten the operational lifespan of the device. The study demonstrates that these losses can be managed by restricting exciton diffusion through host–guest systems or by accelerating radiative recombination using optical microcavities. The development of OLED devices requires a constant balance between high efficiency, durability, and manufacturing complexity. Future research should focus particularly on improving the stability of blue emitters and developing more precise kinetic models to ensure the reliability of mass-produced devices. | |
| dc.description.abstract | Tämä tutkielma selvittää orgaanisten valodiodien (OLED) fysikaalisia rajoitteita ja hyötysuhteen laskua (efficiency roll-off) suurilla kirkkaustasoilla. Orgaanisten puolijohteiden pieni dielektrisyysvakio johtaa tiukasti sitoutuneiden eksitonien muodostumiseen, jotka suurilla virrantiheyksillä aiheuttavat bimolekulaarisia häviömekanismeja, kuten tripletti–tripletti- (TTA) ja tripletti–polaroni-annihilaatiota (TPA). Nämä ilmiöt heikentävät laitteen tehokkuutta ja synnyttävät hukkalämpöä sekä korkeaenergiatiloja, jotka vaurioittavat materiaaleja kemiallisesti ja lyhentävät laitteen käyttöikää. Tutkielmassa osoitetaan, että häviöitä voidaan hallita rajoittamalla eksitonien diffuusiota isäntä–vieras-järjestelmillä tai nopeuttamalla niiden säteilevää rekombinaatiota mikrokaviteettien avulla. OLED-laitteiden kehitys vaatii jatkuvaa tasapainottelua valotehon, kestävyyden ja valmistusmonimutkaisuuden välillä. Tulevaisuuden tutkimuksen on keskityttävä erityisesti sinisten emitterien kestävyyteen ja tarkempaan kineettiseen mallintamiseen massatuotannon laadun varmistamiseksi. | |
| dc.format.extent | 28 | |
| dc.identifier.uri | https://www.utupub.fi/handle/11111/61011 | |
| dc.identifier.urn | URN:NBN:fi-fe2026052252084 | |
| dc.language.iso | eng | |
| dc.rights | fi=Julkaisu on tekijänoikeussäännösten alainen. Teosta voi lukea ja tulostaa henkilökohtaista käyttöä varten. Käyttö kaupallisiin tarkoituksiin on kielletty.|en=This publication is copyrighted. You may download, display and print it for Your own personal use. Commercial use is prohibited.| | |
| dc.rights.accessrights | avoin | |
| dc.subject | OLED | |
| dc.subject | Triplet–Triplet Annihilation (TTA) | |
| dc.subject | Triplet–Polaron Annihilation (TPA) | |
| dc.subject | Efficiency Roll-off | |
| dc.subject | External Quantum Efficiency (EQE) | |
| dc.subject | Host–Guest Systems | |
| dc.title | Bimolecular Annihilation Processes in OLEDs | |
| dc.type.ontasot | fi=Kandidaatintutkielma|en=Bachelor's thesis| |
Tiedostot
1 - 1 / 1