Röntgenemissioon perustuva alkuaineanalyysi
Yli-Paavola, Sirius (2025-03-14)
Röntgenemissioon perustuva alkuaineanalyysi
(14.03.2025)
Julkaisu on tekijänoikeussäännösten alainen. Teosta voi lukea ja tulostaa henkilökohtaista käyttöä varten. Käyttö kaupallisiin tarkoituksiin on kielletty.
avoin
Julkaisun pysyvä osoite on:
https://urn.fi/URN:NBN:fi-fe2025031718612
https://urn.fi/URN:NBN:fi-fe2025031718612
Tiivistelmä
Energiaerotteinen röntgenspektroskopia (EDS/EDX, engl. Energy Dispersive X-ray Spectroscopy) ja röntgenfluoresenssispektroskopia (XRF, engl. X-Ray Fluorescence Spectroscopy) ovat menetelmiä, joita käytetään erilaisten näytteiden alkuainekoostumuksien selvittämiseen. Molempia käytetään laajasti eri tieteenaloilla.
Molemmat menetelmistä perustuvat näytteen atomien emittoimien karakterististen röntgensäteiden havaitsemiseen ja tunnistamiseen. Menetelmien taustalla olevien fysikaalisten ilmiöiden ymmärtäminen on tärkeää erityisesti kvantitatiivisia mittauksia tehdessä, sillä mittaustuloksiin vaikuttavat monet laitteesta ja näytteestä johtuvat ilmiöt.
Vaikka menetelmät ovat samankaltaisia, ne mahdollistavat erilaisia mittauksia. XRF soveltuu paremmin nopeasti tehtäviin kvalitatiivisiin mittauksiin, koska XRF-laitteistoista on olemassa myös kenttätutkimukseen soveltuvia kädessä kannettavia
versioita, ja XRF-laitteistot asettavat vähemmän rajoitteita näytteelle. EDS:llä taas on pienempi spottikoko, joten sillä saadaan tarkemmin tietoa tietystä mittapisteestä. EDS:llä myös pystytään havaitsemaan samanaikaisesti kaikki litiumia raskaammat alkuaineet, toisin kuin XRF-laitteistoilla yleensä.
Molemmat menetelmistä perustuvat näytteen atomien emittoimien karakterististen röntgensäteiden havaitsemiseen ja tunnistamiseen. Menetelmien taustalla olevien fysikaalisten ilmiöiden ymmärtäminen on tärkeää erityisesti kvantitatiivisia mittauksia tehdessä, sillä mittaustuloksiin vaikuttavat monet laitteesta ja näytteestä johtuvat ilmiöt.
Vaikka menetelmät ovat samankaltaisia, ne mahdollistavat erilaisia mittauksia. XRF soveltuu paremmin nopeasti tehtäviin kvalitatiivisiin mittauksiin, koska XRF-laitteistoista on olemassa myös kenttätutkimukseen soveltuvia kädessä kannettavia
versioita, ja XRF-laitteistot asettavat vähemmän rajoitteita näytteelle. EDS:llä taas on pienempi spottikoko, joten sillä saadaan tarkemmin tietoa tietystä mittapisteestä. EDS:llä myös pystytään havaitsemaan samanaikaisesti kaikki litiumia raskaammat alkuaineet, toisin kuin XRF-laitteistoilla yleensä.